摘要: 电阻阵列红外仿真技术至今已发展为一项较为成熟的红外成像仿真方法,不仅像元规模越来越大,制造工艺水平也越来越高.尤其是国外,已研制出大规模商用电阻阵列器件,并在众多武器系统研制过程中得到了应用;国内在该方面同样取得了较大的进步,但是在传统的非均匀测试方法上国内研究还存在一些遗留问题未得到很好的解决.如实验中出现的莫尔条纹、边缘效应、映射与对准等相关难题很少有研究者提出详尽可行的处理措施.本文针对莫尔条纹和边缘效应问题,提出了一种基于点扩散函数估计的迭代非均匀性测试方法,实现了条纹干扰和边缘效应的去除.此外,本文对于映射比大于1:1的情况进行了仿真验证,对比了不同映射比和不同非均匀程度对校正效果的影响,给出了进行下一步实验的理论基础.