基于铁帽和盘面温升特征的劣化绝缘子红外检测方法
Infrared Image Synthetic Diagnosis Method of Faulty Insulators Based on Temperature Rise Characteristics of Steel Caps and Disks
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摘要: 为了解决传统绝缘子红外检测方法存在检测盲区的问题,在绝缘子盘面温升规律仿真分析和实验研究的基础上,将盘面特征纳入劣化绝缘子诊断判据中,提出了一种基于铁帽和盘面温升特征的劣化绝缘子红外检测方法,现场实测验证情况表明该方法可以提高绝缘子检测的准确率.绝缘子盘面温升规律实验研究表明:劣化绝缘子盘面温度较相邻正常绝缘子低,呈"负温升"特征;"负温升"特征的明显程度与劣化绝缘子在串中位置、环境湿度和表面污秽状况有关:两端位置时劣化绝缘子盘面"负温升"特征更明显,湿度大时劣化绝缘子盘面"负温升"特征更明显.