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基于双层模型外延HgCdTe薄膜的霍尔测试

彭曼泽, 丛树仁, 郭沁怡, 严顺英, 俞见云, 李培源, 杨春章, 李艳辉, 王燕, 田立萍, 孔金丞, 李东升, 杨玉林

彭曼泽, 丛树仁, 郭沁怡, 严顺英, 俞见云, 李培源, 杨春章, 李艳辉, 王燕, 田立萍, 孔金丞, 李东升, 杨玉林. 基于双层模型外延HgCdTe薄膜的霍尔测试[J]. 红外技术, 2018, 40(9): 847-852.
引用本文: 彭曼泽, 丛树仁, 郭沁怡, 严顺英, 俞见云, 李培源, 杨春章, 李艳辉, 王燕, 田立萍, 孔金丞, 李东升, 杨玉林. 基于双层模型外延HgCdTe薄膜的霍尔测试[J]. 红外技术, 2018, 40(9): 847-852.
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PENG Manze, CONG Shuren, GUO Qinyi, YAN Shunying, YU Jianyun, LI Peiyuan, YANG Chunzhang, LI Yanhui, WANG Yan, TIAN Liping, KONG Jincheng, LI Dongsheng, YANG Yulin. Hall Measurements of Epitaxial HgCdTe Film Based on Double-layer Model[J]. Infrared Technology , 2018, 40(9): 847-852.
Citation: PENG Manze, CONG Shuren, GUO Qinyi, YAN Shunying, YU Jianyun, LI Peiyuan, YANG Chunzhang, LI Yanhui, WANG Yan, TIAN Liping, KONG Jincheng, LI Dongsheng, YANG Yulin. Hall Measurements of Epitaxial HgCdTe Film Based on Double-layer Model[J]. Infrared Technology , 2018, 40(9): 847-852.
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基于双层模型外延HgCdTe薄膜的霍尔测试

  • 昆明物理研究所,云南昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN215%TN304

Hall Measurements of Epitaxial HgCdTe Film Based on Double-layer Model

摘要

    摘要
  • 摘要: 采用Petritz双层薄膜结构模型,用化学腐蚀的方法分离MBE外延双色HgCdTe薄膜,测试并验证了双层模型对中短双色MBE外延HgCdTe薄膜中各层的霍尔参数计算的有效性,给出了测量不确定度评定以及相对误差.实验表明,MBE外延双层HgCdTe薄膜中的中波薄膜层电导率及霍尔系数的扩展不确定度范围分别为0.33～0.41Ω·cm和61～113 cm3/C,置信概率为95％,与对比样品的中波膜层霍尔参数相比,载流子浓度及霍尔迁移率的相对误差分别小于20％和10％.
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