基于双层模型外延HgCdTe薄膜的霍尔测试
Hall Measurements of Epitaxial HgCdTe Film Based on Double-layer Model
-
摘要: 采用Petritz双层薄膜结构模型,用化学腐蚀的方法分离MBE外延双色HgCdTe薄膜,测试并验证了双层模型对中短双色MBE外延HgCdTe薄膜中各层的霍尔参数计算的有效性,给出了测量不确定度评定以及相对误差.实验表明,MBE外延双层HgCdTe薄膜中的中波薄膜层电导率及霍尔系数的扩展不确定度范围分别为0.33～0.41Ω·cm和61～113 cm3/C,置信概率为95％,与对比样品的中波膜层霍尔参数相比,载流子浓度及霍尔迁移率的相对误差分别小于20％和10％.
下载: