材料表面发射率测量技术研究进展

刘波, 郑伟, 李海洋. 材料表面发射率测量技术研究进展[J]. 红外技术, 2018, 40(8): 725-732.

引用本文:

刘波, 郑伟, 李海洋. 材料表面发射率测量技术研究进展[J]. 红外技术, 2018, 40(8): 725-732.

LIU Bo, ZHENG Wei, LI Haiyang. Research and Progress on Material Surface Emissivity Measurement[J]. Infrared Technology , 2018, 40(8): 725-732.

Citation:

LIU Bo, ZHENG Wei, LI Haiyang. Research and Progress on Material Surface Emissivity Measurement[J]. Infrared Technology , 2018, 40(8): 725-732.

Research and Progress on Material Surface Emissivity Measurement

摘要: 材料表面发射率是描述物体热辐射特性的重要参数,与辐射传热设计、测温、热像检测和武器隐身等技术密切相关.综述了量热法、能量法和多波长法测量材料表面发射率的研究进展,分析了材料发射率及其测量不确定度的影响因素,介绍了发射率测量标准样品的研制及国际间比对,最后展望了该领域的发展趋势.

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