碲锌镉衬底上中长双色红外碲镉汞分子束外延生长研究

杨春章, 覃钢, 李艳辉, 李达, 孔金丞

杨春章, 覃钢, 李艳辉, 李达, 孔金丞. 碲锌镉衬底上中长双色红外碲镉汞分子束外延生长研究[J]. 红外技术, 2018, 40(1): 1-5.
引用本文: 杨春章, 覃钢, 李艳辉, 李达, 孔金丞. 碲锌镉衬底上中长双色红外碲镉汞分子束外延生长研究[J]. 红外技术, 2018, 40(1): 1-5.
YANG Chunzhang, QIN Gang, LI Yanhui, LI Da, KONG Jincheng. Research on Growth of M/L-wavelength Dual-band IR-MCT on CZT Substrate by MBE[J]. Infrared Technology , 2018, 40(1): 1-5.
Citation: YANG Chunzhang, QIN Gang, LI Yanhui, LI Da, KONG Jincheng. Research on Growth of M/L-wavelength Dual-band IR-MCT on CZT Substrate by MBE[J]. Infrared Technology , 2018, 40(1): 1-5.

碲锌镉衬底上中长双色红外碲镉汞分子束外延生长研究

基金项目: 总装备部光电火控基金
详细信息
  • 中图分类号: TN304

Research on Growth of M/L-wavelength Dual-band IR-MCT on CZT Substrate by MBE

  • 摘要: 报道了使用分子束外延(Molecular beam epitaxy,MBE)技术,在(211)B碲镉汞(CdZnTe,CZT)衬底上生长中长波双色碲镉汞(HgCdTe,MCT)薄膜材料,生长温度为180℃,研究了双色碲镉汞薄膜材料衬底脱氧技术、分子束外延薄膜生长温度与缓冲层生长等关键技术,实现了中长波双色碲镉汞薄膜生长,外延薄膜采用相差显微镜、扫描电子显微镜(SEM)、傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)、二次离子质谱仪(SIMS)及X射线衍射仪(XRD)对薄膜的表面缺陷、厚度、组分及其均匀性、薄膜纵向组分以及晶体质量进行了表征,表面缺陷数量低于600 cm-2,组分(300 K测试)和厚度均匀性分别为?x≤0.001、?d≤0.9μm,X-Ray双晶衍射摇摆曲线FWHM=65 arcsec,得到了质量较高的中长波双色碲镉汞薄膜材料.
  • 期刊类型引用(3)

    1. 耿松,杨晋,李树杰,覃钢,李立华,赵俊,李艳辉,孔金丞,赵鹏,左大凡,胡彦博,梁艳,任洋. 中长双色红外焦平面探测器组件技术研究. 红外与毫米波学报. 2023(03): 292-299 . 百度学术
    2. 郭家祥,谢润章,王鹏,张涛,张坤,王海露,贺婷,李庆,王芳,陈效双,陆卫,胡伟达. 多维度红外光电探测器. 红外与毫米波学报. 2022(01): 40-60 . 百度学术
    3. 黄颖璞,孙士文. 碲锌镉衬底国产研磨料的研究. 现代制造技术与装备. 2019(01): 19-21 . 百度学术

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