A Study of pn Junction Characteristics for MW HgCdTe Photodiodes
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摘要: 采用液相外延(LPE)生长的中波HgCdTe薄膜,基于B离子注入n-on-p平面结技术,制备了LBIC测试结构和I-V测试芯片并进行了相应的测试和分析.LBIC测试结果表明,HgCdTe pn结实际结区尺寸扩展4~5 μm,这主要与光刻、B离子注入以及注入后低温退火等器件工艺有关.二极管器件C-V和I-V特性研究表明,所制备的HgCdTe pn结不是突变结也不是线性缓变结.中波HgCdTe二极管器件最高动态阻抗大于30GΩ,器件优值R0A高达1.21×105Ωcm2,表现出较好的器件性能.
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1. 周连军,韩福忠,白丕绩,舒畅,孙皓,王晓娟,李京辉,邹鹏程,郭建华,王琼芳. 高温碲镉汞中波红外探测器的国内外进展. 红外技术. 2017(02): 116-124 . 本站查看
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