红外焦平面器件微扫描技术的发展

王忆锋, 侯辉, 冯雪艳

王忆锋, 侯辉, 冯雪艳. 红外焦平面器件微扫描技术的发展[J]. 红外技术, 2013, (12): 751-758.
引用本文: 王忆锋, 侯辉, 冯雪艳. 红外焦平面器件微扫描技术的发展[J]. 红外技术, 2013, (12): 751-758.
WANG Yi-feng, HOU Hui, FENG Xue-yan. Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array[J]. Infrared Technology , 2013, (12): 751-758.
Citation: WANG Yi-feng, HOU Hui, FENG Xue-yan. Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array[J]. Infrared Technology , 2013, (12): 751-758.

红外焦平面器件微扫描技术的发展

详细信息
  • 中图分类号: TN215

Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array

  • 摘要: 红外焦平面器件的像元由光敏区和非光敏区(亦称为死区)构成。死区对应的场景成为探测盲区,落在死区上的场景光子属于无效光子,对信号没有贡献。利用微扫描动作将死区光子转移到光敏区,可以提高红外成像系统的空间分辨率。基于有关基本概念,介绍了红外成像系统中微扫描技术的原理、实现方法和发展趋势。
  • 期刊类型引用(3)

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