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红外焦平面器件微扫描技术的发展

王忆锋, 侯辉, 冯雪艳

王忆锋, 侯辉, 冯雪艳. 红外焦平面器件微扫描技术的发展[J]. 红外技术, 2013, (12): 751-758.
引用本文: 王忆锋, 侯辉, 冯雪艳. 红外焦平面器件微扫描技术的发展[J]. 红外技术, 2013, (12): 751-758.
shu
WANG Yi-feng, HOU Hui, FENG Xue-yan. Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array[J]. Infrared Technology , 2013, (12): 751-758.
Citation: WANG Yi-feng, HOU Hui, FENG Xue-yan. Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array[J]. Infrared Technology , 2013, (12): 751-758.
shu

红外焦平面器件微扫描技术的发展

  • 昆明物理研究所,云南 昆明,650223

  • 总参陆航部驻成都地区军事代表室,四川 成都,610036

  • 中国兵器工业集团公司科技部,北京,100821

  • 中国科学院昆明物理研究所

  • 中国人民解放军总参陆航部驻成都地区军事代表室

  • 中国兵器工业集团公司

详细信息

  • 中图分类号: TN215

Development of Microscan Techniques in Infrared Focal Plane Array

摘要

    摘要
  • 摘要: 红外焦平面器件的像元由光敏区和非光敏区（亦称为死区）构成。死区对应的场景成为探测盲区，落在死区上的场景光子属于无效光子，对信号没有贡献。利用微扫描动作将死区光子转移到光敏区，可以提高红外成像系统的空间分辨率。基于有关基本概念，介绍了红外成像系统中微扫描技术的原理、实现方法和发展趋势。
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