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背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响

Back-thining on Reliability Influence for MW 320×256 MCT IRFPA

    摘要
  • 摘要: 通过对A版（初减薄）和B版（终减薄）中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验，并对其试验后的光电特性进行比较，最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。

     

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