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背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响

田立萍, 朱颖峰, 刘湘云, 郭建华

田立萍, 朱颖峰, 刘湘云, 郭建华. 背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响[J]. 红外技术, 2013, (10): 629-631.
引用本文: 田立萍, 朱颖峰, 刘湘云, 郭建华. 背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响[J]. 红外技术, 2013, (10): 629-631.
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TIAN Li-ping, ZHU Ying-feng, LIU Xiang-yun, GUO Jian-hua. Back-thining on Reliability Influence for MW 320×256 MCT IRFPA[J]. Infrared Technology , 2013, (10): 629-631.
Citation: TIAN Li-ping, ZHU Ying-feng, LIU Xiang-yun, GUO Jian-hua. Back-thining on Reliability Influence for MW 320×256 MCT IRFPA[J]. Infrared Technology , 2013, (10): 629-631.
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背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响

  • 昆明物理研究所,云南 昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN215

Back-thining on Reliability Influence for MW 320×256 MCT IRFPA

摘要

    摘要
  • 摘要: 通过对A版（初减薄）和B版（终减薄）中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验，并对其试验后的光电特性进行比较，最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。
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