电阻阵列非均匀性测试与校正

电阻阵列非均匀性测试与校正

杨春伟, 廖守亿, 苏德伦, 张金生, 王仕成

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杨春伟, 廖守亿, 苏德伦, 张金生, 王仕成. 电阻阵列非均匀性测试与校正[J]. 红外技术, 2013, (6): 345-349.

引用本文:

杨春伟, 廖守亿, 苏德伦, 张金生, 王仕成. 电阻阵列非均匀性测试与校正[J]. 红外技术, 2013, (6): 345-349.

YANG Chun-wei, LIAO Shou-yi, SU De-lun, ZHANG Jin-sheng, WANG Shi-cheng. Resistor Array Nonuniformity Measurement and Correction[J]. Infrared Technology , 2013, (6): 345-349.

Citation:

YANG Chun-wei, LIAO Shou-yi, SU De-lun, ZHANG Jin-sheng, WANG Shi-cheng. Resistor Array Nonuniformity Measurement and Correction[J]. Infrared Technology , 2013, (6): 345-349.

电阻阵列非均匀性测试与校正

第二炮兵工程大学精确制导与仿真实验室,陕西西安,710025
中国人民解放军火箭军工程大学

基金项目: 航空科学基金项目，编号20080112005。

详细信息

中图分类号: TN911.73
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出版历程

Resistor Array Nonuniformity Measurement and Correction

摘要: 电阻阵列红外图像投射器的研究在近20年间取得了突破性的进展。作为红外图像生成系统的关键部件，电阻阵列的非均匀性是影响红外图像质量的主要因素，电阻阵列在使用之前必须进行非均匀性校正才能满足红外图像生成系统的应用要求。给出了非均匀性校正的流程；针对稀疏网格法和全屏测试法的互补性，提出了改进的全屏测试法；采用3次样条插值和分段线性法进行数据处理；采用“在线查表法”进行实时非均匀性校正。仿真结果表明，改进的全屏测试法及非均匀性实时算法取得了良好的效果。
- 电阻阵列 /
- 非均匀性校正 /
- 稀疏网格法 /
- 全屏测试法

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2024年6月6日