电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响

冯刘, 刘晖, 张连东, 高翔, 苗壮, 程宏昌, 贺英萍, 史鹏飞

冯刘, 刘晖, 张连东, 高翔, 苗壮, 程宏昌, 贺英萍, 史鹏飞. 电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响[J]. 红外技术, 2013, (5): 295-299.
引用本文: 冯刘, 刘晖, 张连东, 高翔, 苗壮, 程宏昌, 贺英萍, 史鹏飞. 电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响[J]. 红外技术, 2013, (5): 295-299.
Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers[J]. Infrared Technology , 2013, (5): 295-299.
Citation: Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers[J]. Infrared Technology , 2013, (5): 295-299.

电子清刷对双MCP像增强器闪烁噪声的影响

详细信息
  • 中图分类号: TN223

Influence of Electron Scrubbing on Flicker Noise of Double-MCP Image Intensifiers

  • 摘要: 由于微通道板除气不彻底,导致双微通道板像增强器在工作时视场上出现闪烁噪声,因而无法正常工作.为了消除闪烁噪声并使微通道板增益进入一个稳定值区间,采用不同的电子清刷控制方法,对两块微通道板进行彻底除气,结果表明:增大萃取电荷量的方法在减少闪烁噪声的同时也会降低像增强器的增益,而增加台外预先电子清刷阶段并且使第二块微通道板的预先萃取电荷量大于第一块微通道板,可以完全消除闪烁噪声.选择合适的预先萃取电荷量,可以保证像增强器的增益达到105以上,制作出合格的双微通道板像增强器.
  • 期刊类型引用(4)

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