红外热成像系统低温极限成像探测分析

红外热成像系统低温极限成像探测分析

王初阳, 曹峰梅, 白廷柱

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王初阳, 曹峰梅, 白廷柱. 红外热成像系统低温极限成像探测分析[J]. 红外技术, 2012, (9): 541-546.

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王初阳, 曹峰梅, 白廷柱. 红外热成像系统低温极限成像探测分析[J]. 红外技术, 2012, (9): 541-546.

红外热成像系统低温极限成像探测分析

北京理工大学光电学院,“光电成像技术与系统”教育部重点实验室,北京 100081
北京理工大学

详细信息

中图分类号: TN215
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出版历程

摘要: 从普朗克黑体辐射定律出发,通过计算,得到不同温度下景物的辐射出射度,推导出真空低温密闭环境中景物辐射通过光学系统进入红外探测器的辐射通量的计算公式,得到了探测器接收到的辐射通量,研究了影响探测器性能的主要噪声,并且计算了系列红外探测器的最小可探测功率,进而分析得到了影响红外热成像系统可探测最低温度的影响因素,通过计算得到了系列探测器的低温探测极限.该工作可为用于低温环境和目标探测成像的红外成像测温系统设计提供依据.
- 最低可探测温度 /
- 最小可探测功率 /
- 辐射通量 /
- 红外探测器噪声

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