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国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述

张莹, 刘塑

张莹, 刘塑. 国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述[J]. 红外技术, 2012, 34(3): 134-139.
引用本文: 张莹, 刘塑. 国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述[J]. 红外技术, 2012, 34(3): 134-139.
shu
ZHANG Ying, LIU Su. Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly[J]. Infrared Technology , 2012, 34(3): 134-139.
Citation: ZHANG Ying, LIU Su. Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly[J]. Infrared Technology , 2012, 34(3): 134-139.
shu

国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述

  • 昆明物理研究所,云南昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN215

Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly

摘要

    摘要
  • 摘要: 介绍了国外焦平面探测器组件可靠性研究的主要特点和内容.焦平面探测器组件的主要制造商,建立了较完善的可靠性保证体系,可靠性研究融入设计与制造全过程,是基于过程的可靠性研究.在研制阶段进行失效模式的充分暴露与加速试验研究；批生产阶段进行工艺优化,并降低系统成本；建立数据库,进行可靠性评估方法研究.
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    1. 方珉，许羽，赵亚南，吴玮，宋佳囡. 基于SiP技术的小型化红外前端采集微系统. 电子设计工程. 2021(10): 180-184 . 百度学术

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