国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述

国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述

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张莹, 刘塑. 国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述[J]. 红外技术, 2012, 34(3): 134-139.

引用本文:

张莹, 刘塑. 国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述[J]. 红外技术, 2012, 34(3): 134-139.

ZHANG Ying, LIU Su. Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly[J]. Infrared Technology , 2012, 34(3): 134-139.

Citation:

ZHANG Ying, LIU Su. Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly[J]. Infrared Technology , 2012, 34(3): 134-139.

国外红外焦平面探测器组件可靠性研究综述

张莹,
刘塑

昆明物理研究所,云南昆明,650223
中国科学院昆明物理研究所

详细信息

中图分类号: TN215
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出版历程

Reliability Research on Foreign Infrared Focal Plane Assembly

ZHANG Ying,
LIU Su

摘要: 介绍了国外焦平面探测器组件可靠性研究的主要特点和内容.焦平面探测器组件的主要制造商,建立了较完善的可靠性保证体系,可靠性研究融入设计与制造全过程,是基于过程的可靠性研究.在研制阶段进行失效模式的充分暴露与加速试验研究；批生产阶段进行工艺优化,并降低系统成本；建立数据库,进行可靠性评估方法研究.
- 焦平面探测器组件 /
- 可靠性 /
- 加速试验

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