2002年 第3期

栏目
综述与评论
介绍了红外焦平面(简称FPA)探测器黑体探测率Dbb的定义和测试方法,比较了用点黑体辐射源和面黑体辐射源的对FPA探测器的响应率Rbb测试结果,讨论了FPA探测器的伏安特性对信号输出的影响.
从低发射率伪装涂料研究的必要性出发,从构成低发射率涂料的各种填料、胶结剂以及涂层结构等方面对其研究现状与局限性作了介绍.并在此基础上对低发射率伪装涂料的发展方向提出了设想.
系统与设计
为提高航迹关联的正确率,文中引入红外传感器方位数据与雷达数据进行关联.通过红外高精度的角度测量和雷达高精度的距离测量的融合,减小了系统融合航迹同真实航迹间的误差,给出了对目标航迹的精确状态估计.
直方图均衡是一种简单但非常有效的图像增强方法,已有的直方图均衡方法包括直方图均匀化(HE)、直方图映射法(HP)和平台直方图均匀化(PE)等,这些方法的实时实现需要极大的数据存储容量和极高的处理速度.并且要在一个系统中同时实现这几种算法,仅靠单纯的硬件实现(如FPGA)或单纯的软件实现(DSP)都不能取得良好的效果.而如果将FPGA和DSP相结合,则既可发挥FPGA的高速优势,又可发挥DSP软件的灵活特点,这样就实现了一种功能强大的能对不同红外图像进行处理的实时直方图均衡器.本文最后给出运用HE算法处理前后的红外图像及其直方图.
介绍了多功能红外智能仿真车系统的结构、工作原理、功能、关键技术及软件设计.
材料与器件
提出了利用近红外激光散射光强分布分析来检测半导体材料内部微体缺陷的检测方法.在研究广义洛仑兹-米氏理论(Generalized Lorenz-Mie Theory)的基础上,通过对理论上散射光强分布的分析,近红外激光散射光强分布空间FFT的截止频率被提取为判定半导体材料缺陷大小的判据,依据这一判据,可以快速的判定微体缺陷的大小.并通过对GaAs样品进行了实验研究,证明了该方法和判据的有效性.
介绍了计算CaAs∶Cs-O NEA光电阴极电子表面逸出几率的方法,选用双偶极层表面模型,计算了两个偶极层形成的界面势垒各自对电子表面逸出几率的影响,提出了增大电子表面逸出几率的条件,并粗略推测了第一偶极层的厚度.
介绍了微通道板的电子增益及其测量的UV光电法,并着重分析了UV光透过Au薄膜引起的附加输出(或附加增益)对测试结果的影响,给出了减小的途径,指出了应用前景.
研制出一种直接注入(Direct Injection)方式的128×128元红外焦平面CMOS读出电路.其中,采用了相关双采样电路,使信噪比明显提高.对电路方案进行了计算机仿真.实验结果表明,读出电路的动态范围≥74 dB,功耗≤5 mW.
热释电红外焦平面阵列是非致冷红外焦平面阵列的主要发展方向之一,其读出电路是关键部件,属数模混合集成电路。分析了热释电读出电路的特点,设计原则,并给出了一种读出电路设计方案以及仿真和实验结果。
在分析了热释电探测器对阶跃辐射响应的理论之后,提出了一种红外探测器综合性能参数自动测试系统,并对热释电红外探测器的响应率、响应时间、平衡度进行了测试,得到探测器对于特定光源辐射的线性区间和饱和区间,为正确使用探测器提供了实验基础.
测试技术
由于电子元件的功率密度不断增加,电子产品的热控制日显重要.红外热像仪有众多优点且可用于电子元件表面温度的测量.探讨了如何在电子元件正常工作条件下,应用红外热像仪获得其真实表面温度,涉及背景温度、目标温度的正确估计,透明材料的选取、透射率的估算,误差及可能的修正方法.
简要介绍一种微处理器控制的红外点测温方法及系统结构,重点阐述双色测温Tc比色温度的修正方法,用计算机给出了一组多项式和指数方程的发射率仿真修正数据,从而实现物体温度的高精度检测.
研制了通过采集鼓膜辐射的红外能量测量体温的红外辐射式体温计,实现了对体温快速准确的测量;使用常温黑体炉对该温度计进行了性能测试和标定实验,取得了良好的实验结果.
红外应用
说明了"双红治疗仪"在理疗科的四大类疾病患者的临床应用及结果;并对该治疗仪的治病临床机理进行了分析讨论.
介绍了红外传感器在飞轮强度实验中动态测量飞轮主体部分轴向微小变形的应用.在电涡流传感器无法适应的强电磁干扰的环境里,使用红外传感器代替,利用红外传感器对物体表面黑度的敏感特性测量微小变形,取得了很好的效果,为进一步研究飞轮的强度和破坏机理提供了重要的实验参考.
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2024年6月6日