摘要: 由于电子元件的功率密度不断增加,电子产品的热控制日显重要.红外热像仪有众多优点且可用于电子元件表面温度的测量.探讨了如何在电子元件正常工作条件下,应用红外热像仪获得其真实表面温度,涉及背景温度、目标温度的正确估计,透明材料的选取、透射率的估算,误差及可能的修正方法.