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• 相敏探测法噪声测试系统
• GaAs PIN二极管的M-F曲线^[3]
• 不同厚度Si PIN APDs的M-F曲线^[11]
• 光功率衰减10^-2.3的AlInP雪崩二极管的M-F曲线^[12]
• 直接功率测量噪声系统^[4]
• APD的F与增益的关系^[16]
• Ge/Si SACM APD的平面示意图和横截面图^[18]
• Ge/Si APD的碰撞电离系数比k^[18]
• Al_0.7In_0.3As_0.3Sb_0.7 SAGCM APD的横截面示意图和电场分布^[19]
• AlInAsSb APD的碰撞电离系数比k^[19]
• 常用半导体材料的碰撞电离系数比k^[21]
• GaAs APD不同倍增层厚度的k值^[22]
• 两种模型模拟不同倍增层厚度的k值^[23]
• 制造的InAlAs/InGaAs I²E APD的示意图^[27]
• 串联I²E InAlAs/InGaAs APD能带图^[28]
• 模拟串联I²E InAlAs/InGaAs APD的k值^[28]
• 单级APD和串联APD的模拟增益带宽积^[28]