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激光辐照HgCdTe探测器输出特性与软损伤判定

范永杰, 秦强

范永杰, 秦强. 激光辐照HgCdTe探测器输出特性与软损伤判定[J]. 红外技术, 2020, 42(9): 829-832.
引用本文: 范永杰, 秦强. 激光辐照HgCdTe探测器输出特性与软损伤判定[J]. 红外技术, 2020, 42(9): 829-832.
shu
FAN Yongjie, QIN Qiang. HgCdTe Detector Output Characteristics and Soft Damage Determination under Laser Irradiation[J]. Infrared Technology , 2020, 42(9): 829-832.
Citation: FAN Yongjie, QIN Qiang. HgCdTe Detector Output Characteristics and Soft Damage Determination under Laser Irradiation[J]. Infrared Technology , 2020, 42(9): 829-832.
shu

激光辐照HgCdTe探测器输出特性与软损伤判定

  • 昆明理工大学理学院,云南 昆明 650500

  • 昆明物理研究所,云南 昆明 650223

  • 昆明理工大学

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN215

HgCdTe Detector Output Characteristics and Soft Damage Determination under Laser Irradiation

摘要

    摘要
  • 摘要: 根据PV探测器的开路输出公式,建立了涵盖长波、中波、短波的HgCdTe探测器响应模型.模型仿真发现探测器被激光辐照后产生的温升将降低探测器的输出,探测器被激光直接照射后会立即产生饱和输出.综合实际应用提出了探测器软损伤的判断门限.
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出版历程
  • 网络出版日期:  2020-12-07
  • 刊出日期:  2020-12-08

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