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防离子反馈微通道板表面碳污染去除的试验研究

杨晓军, 李丹, 乔凯, 师宏立, 郝子恒, 张妮, 刘峰, 刘旭川

杨晓军, 李丹, 乔凯, 师宏立, 郝子恒, 张妮, 刘峰, 刘旭川. 防离子反馈微通道板表面碳污染去除的试验研究[J]. 红外技术, 2020, 42(8): 747-751.
引用本文: 杨晓军, 李丹, 乔凯, 师宏立, 郝子恒, 张妮, 刘峰, 刘旭川. 防离子反馈微通道板表面碳污染去除的试验研究[J]. 红外技术, 2020, 42(8): 747-751.
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YANG Xiaojun, LI Dan, QIAO Kai, SHI Hongli, HAO Ziheng, ZHANG Ni, LIU Feng, LIU Xuchuan. Experimental Study of Carbon Pollution Removal from Microchannel Plate with Ion Barrier Film[J]. Infrared Technology , 2020, 42(8): 747-751.
Citation: YANG Xiaojun, LI Dan, QIAO Kai, SHI Hongli, HAO Ziheng, ZHANG Ni, LIU Feng, LIU Xuchuan. Experimental Study of Carbon Pollution Removal from Microchannel Plate with Ion Barrier Film[J]. Infrared Technology , 2020, 42(8): 747-751.
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防离子反馈微通道板表面碳污染去除的试验研究

详细信息

  • 中图分类号: TN223

Experimental Study of Carbon Pollution Removal from Microchannel Plate with Ion Barrier Film

摘要

    摘要
  • 摘要: 针对带防离子反馈膜的微通道板(MCP)普遍存在的C污染现象,开展了真空热处理、紫外臭氧辐照及氢气热处理试验,对各个试验结果进行了MCP电性能测试及俄歇电子能谱(AES)研究,着重分析了MCP表面C含量及MCP性能随不同试验方法的变化趋势.试验结果表明,C含量的降低对MCP性能的提升具有显著作用,真空热处理对C的分解作用甚微,紫外臭氧辐照及氢气热处理均可以较为彻底地去除MCP表面C污染,并且氢气热处理对MCP增益性能的提升作用显著,效率最高.
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