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陈亚宇, 张卫, 孙焕奕, 黄晓松. 基于红外成像技术的填埋场裸膜缺陷检测研究[J]. 红外技术, 2020, 42(6): 598-602.
引用本文: 陈亚宇, 张卫, 孙焕奕, 黄晓松. 基于红外成像技术的填埋场裸膜缺陷检测研究[J]. 红外技术, 2020, 42(6): 598-602.
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CHEN Yayu, ZHAGN Wei, SUN Huanyi, HUANG Xiaosong. Defect Detection of Landfill Bare Film Based on Infrared Imaging Technology[J]. Infrared Technology , 2020, 42(6): 598-602.
Citation: CHEN Yayu, ZHAGN Wei, SUN Huanyi, HUANG Xiaosong. Defect Detection of Landfill Bare Film Based on Infrared Imaging Technology[J]. Infrared Technology , 2020, 42(6): 598-602.
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基于红外成像技术的填埋场裸膜缺陷检测研究

Defect Detection of Landfill Bare Film Based on Infrared Imaging Technology

    摘要
  • 摘要: 利用高密度聚氯乙烯膜(HDPE)缺陷区与完整区同时刻温差特性,采用红外热成像技术对高密度聚氯乙烯膜进行缺陷检测.在持续热源作用下,对不同面积及形状的缺陷进行红外图像采集,记录膜表面不同区域的温度,分析不同位置温度及红外缺陷阴影区随时间的变化规律,提取温度特征曲线及缺陷最佳检测时间范围.实验结果表明:缺陷区与完整区温度随时间变化趋势整体相同,但在相同时刻存在温度差异且红外图像采集时间为10～20 min内温差值最明显,可视为缺陷最佳检测时间域,红外热像采集时间为13 min时,红外图像边缘轮廓与实缺陷轮廓基本一致,该时间为最佳检测时间点.

     

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