多次采样平均在长波红外高光谱成像系统中的应用

中国科学院上海技术物理研究所,中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049
中国科学院上海技术物理研究所,中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049;中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心,江苏启东 226200
中国科学院上海技术物理研究所

基金项目: 国家重点研发计划资助(2017YFC0602103)

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Application of Multiple Sampling Technology in LWIR Hyperspectral Imaging System

摘要: 长波红外高光谱成像系统由于光谱细分导致探测器所接收的目标信号的能量较一般成像系统弱,因此系统噪声对成像效果影响较大.针对这一现象,本文在分析系统噪声成分的基础上,提出采用ADC多次采样平均的方法来降低其噪声,并从理论上推导了该方法的有效性.然后搭建了实验系统,分析计算不同积分时间下,利用多次采样平均技术得到的信号和噪声大小,并计算系统的信噪比和NETD.结果表明,多次(m次)采样平均对系统的信号值几乎无影响,但可以将系统噪声降低至原来的m-1/2倍.因此,该方法可将系统的信噪比提高至原来的m1/2倍,并能有效降低系统的NETD,提高系统灵敏度.该方法为改善长波红外高光谱成像系统成像效果提供了一种方案.
- 长波红外 /
- 高光谱成像 /
- 多次采样平均 /
- 降低噪声 /
- NETD

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