热带雨林环境中锗基底薄膜微缺陷对减反射膜环境稳定性的影响
Influence of the Micro Defect on the Stability of Ge-base Antireflective Films in Tropical Rainforest Environment
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摘要: 采用投样试验的方法，在锗基底上镀制红外减反射膜样品，将样品放置在西双版纳热带雨林环境进行试验，通过傅里叶红外光谱仪、扫描电镜等测量手段，分析了试验前后样品的变化特性，对镀膜样品在热带雨林环境中的稳定性进行了研究。实验发现，在热带雨林环境中薄膜微缺陷的腐蚀、扩展是导致薄膜失效的主要原因。
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