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湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响

陈凤金, 司俊杰, 施正风

陈凤金, 司俊杰, 施正风. 湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响[J]. 红外技术, 2015, (6): 510-513.
引用本文: 陈凤金, 司俊杰, 施正风. 湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响[J]. 红外技术, 2015, (6): 510-513.
shu
CHEN Feng-jin, SI Jun-jie, SHI Zheng-feng. Reliability of PbS Photoconductive Detector in Hydrothermal Environment[J]. Infrared Technology , 2015, (6): 510-513.
Citation: CHEN Feng-jin, SI Jun-jie, SHI Zheng-feng. Reliability of PbS Photoconductive Detector in Hydrothermal Environment[J]. Infrared Technology , 2015, (6): 510-513.
shu

湿热环境对PbS光导探测器可靠性影响

  • 中国空空导弹研究院,河南洛阳,471009

  • 中国空空导弹研究院，河南洛阳 471009; 红外探测器技术航空科技重点实验室，河南洛阳 471009

  • 中国空空导弹研究院

详细信息

  • 中图分类号: TN215

Reliability of PbS Photoconductive Detector in Hydrothermal Environment

摘要

    摘要
  • 摘要: 叙述了PbS薄膜的化学水浴制备方法及PbS薄膜形貌、性能测试及湿热环境（相对湿度95%）试验的过程，阐述了PbS探测器芯片经湿热环境试验后暗阻等性能参数的变化情况，分析了其原因和相关机理。短时间（1 h）内湿热环境下，其性能参数变化在5%以内，在持续24 h的潮湿环境后，PbS的暗阻增大50%以上。在之后的2×24 h、3×24 h、4×24 h、5×24 h湿热环境下，暗阻值增量随时间递增呈正比例关系。当潮湿试验进行到7×24 h后，部分试验样件无法测试出响应信号，样件失效。
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