基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试

基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试

苏德伦, 廖守亿, 张金生

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苏德伦, 廖守亿, 张金生. 基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试[J]. 红外技术, 2015, (6): 479-483.

引用本文:

苏德伦, 廖守亿, 张金生. 基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试[J]. 红外技术, 2015, (6): 479-483.

SU De-lun, LIAO Shou-yi, ZHANG Jin-sheng. Resistor Array Non-uniformity Test Based on PSF Estimation[J]. Infrared Technology , 2015, (6): 479-483.

Citation:

SU De-lun, LIAO Shou-yi, ZHANG Jin-sheng. Resistor Array Non-uniformity Test Based on PSF Estimation[J]. Infrared Technology , 2015, (6): 479-483.

基于PSF估计的电阻阵列非均匀性测试

第二炮兵工程大学，陕西西安 710025; 解放军96111部队，陕西韩城 715400
第二炮兵工程大学,陕西西安,710025
中国人民解放军火箭军工程大学

基金项目: 某院重点平台建设项目；中国博士后科学基金，编号2012M512。

详细信息

中图分类号: TN215
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出版历程

Resistor Array Non-uniformity Test Based on PSF Estimation

摘要: 电阻阵列的非均匀性是一种固定模式的空间噪声，是影响红外图像质量的主要因素。测试数据的准确性对非均匀性校正效果是至关重要的，全屏测试时辐射能量的扩散是导致测试误差的重要原因。分析了经典图像复原方法的局限性，提出一种新的基于PSF粗估计的迭代测试方法。分析了不同PSF估计误差对新方法收敛速度和测试精度的影响，评估了不同PSF条件下的测试效果。数值仿真结果表明，新的方法计算量更低，收敛速度更快，且能够适应更宽的平滑因子参数范围。新方法可有效地从退化图像中复原电阻阵列的实际非均匀性图像，取得较好的校正效果。
- 电阻阵列 /
- 非均匀性测试 /
- PSF估计 /
- 退化图像复原

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