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对某型红外热像仪可靠性增长的研究与改进

王琦艺 夏丽昆 曾邦泽 赵德利 朱尤攀 陈若童 李广 王若男

王琦艺, 夏丽昆, 曾邦泽, 赵德利, 朱尤攀, 陈若童, 李广, 王若男. 对某型红外热像仪可靠性增长的研究与改进[J]. 红外技术, 2022, 44(6): 628-634.
引用本文: 王琦艺, 夏丽昆, 曾邦泽, 赵德利, 朱尤攀, 陈若童, 李广, 王若男. 对某型红外热像仪可靠性增长的研究与改进[J]. 红外技术, 2022, 44(6): 628-634.
WANG Qiyi, XIA Likun, ZENG Bangze, ZHAO Deli, ZHU Youpan, CHEN Ruotong, LI Guang, WANG Ruonan. Research and Improvement on Reliability Growth of a Type of Infrared Thermal Imager[J]. Infrared Technology , 2022, 44(6): 628-634.
Citation: WANG Qiyi, XIA Likun, ZENG Bangze, ZHAO Deli, ZHU Youpan, CHEN Ruotong, LI Guang, WANG Ruonan. Research and Improvement on Reliability Growth of a Type of Infrared Thermal Imager[J]. Infrared Technology , 2022, 44(6): 628-634.

对某型红外热像仪可靠性增长的研究与改进

详细信息
    作者简介:

    王琦艺(1991-),女,硕士,工程师。主要研究方向:红外成像系统设计及相关技术。E-mail:wqy11wqy@163.com

    通讯作者:

    赵德利(1989-),男,硕士,副高级工程师。主要研究方向:红外成像系统设计及相关技术。E-mail:719554525@qq.com

  • 中图分类号: TN216

Research and Improvement on Reliability Growth of a Type of Infrared Thermal Imager

  • 摘要: 热像仪的可靠性水平会直接影响使用者任务成功率、维护成本及寿命周期,因此其可靠性设计工作越来越受到关注。同时,就目前国内热像仪研制情况而言,研制样机的可靠性并不能反映小批量生产产品的可靠性水平。因此,为充分反映研制样机的可靠性水平,本文主要研究了某型热像仪在研制过程中的可靠性增长方法,分析了红外热像仪的故障,建立了红外热像仪的任务可靠性模型,提出了相应的改进措施,并采用可靠性增长的办法来验证所提措施的有效性。本文所提改进措施满足装备试验鉴定要求,可实现热像仪的可靠性增长和批量产品可靠性不降低的目标。
  • 图  1  任务可靠性框图

    Figure  1.  Block diagram of mission reliability

    图  2  热像视场故障

    Figure  2.  Fault diagram of thermal image field of view

    图  3  热像仪视场故障树图

    Figure  3.  Tree diagram of field of view fault of thermal imager

    图  4  电容磨至瓷体表面形貌结构图

    Figure  4.  Structure diagram of ceramic surface morphology after capacitive grinding

    图  5  电容内部电极层形貌结构图

    Figure  5.  Structure diagram of internal electrode layer morphology of capacitor

    图  6  电容内部结构

    Figure  6.  Internal structure diagram of capacitor

    图  7  杜安模型在线性坐标系中的增长曲线

    Figure  7.  Growth curve of Duane model in linear coordinate system

    表  1  预计结果

    Table  1.   Expected results

    The name of the part Estimated value
    Infrared optical system λ=20×10-6/h;
    MTBF=50000 h
    Detector assembly λ=125×10-6/h;
    MTBF=8000 h
    Integrated processing circuit λ=41.7×10-6/h;
    MTBF=23980.8 h
    Focusing zoom assembly λ=100×10-6/h
    MTBF=10000 h
    Monoblock λ=10×10-6/h
    MTBF=100000 h
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    表  2  可靠性试验方案

    Table  2.   Test scheme for reliability verification

    Scheme number Developer risk α User risk β Test time θ1 Number of judgement failures
    Receive Rejection
    21 0.3 0.3 1.1 0 ≥1
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    表  3  失效电容C93电性能测试数据表

    Table  3.   Electrical performance test data sheet of failure capacitor C93

    Product Numbers C/μF DF Insulation Resistance Result
    Capacitance C93 of product 1# No data No data No reading Short circuit failure
    Note: Test instrument: agilent-4288a bridge; Test conditions: (1 ± 0.1) kHz, 1.0 ± 0.2 V
    下载: 导出CSV
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出版历程
  • 收稿日期:  2021-10-19
  • 修回日期:  2021-12-16
  • 刊出日期:  2022-06-20

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