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SF6气体泄漏红外成像检测的技术分析和应用探讨

季怡萍 邓先钦 徐鹏 高凯

季怡萍, 邓先钦, 徐鹏, 高凯. SF6气体泄漏红外成像检测的技术分析和应用探讨[J]. 红外技术, 2022, 44(2): 198-204.
引用本文: 季怡萍, 邓先钦, 徐鹏, 高凯. SF6气体泄漏红外成像检测的技术分析和应用探讨[J]. 红外技术, 2022, 44(2): 198-204.
JI Yiping, DENG Xianqin, XU Peng, GAO Kai. Analysis of SF6 Leakage Detection Using Infrared Imaging[J]. Infrared Technology , 2022, 44(2): 198-204.
Citation: JI Yiping, DENG Xianqin, XU Peng, GAO Kai. Analysis of SF6 Leakage Detection Using Infrared Imaging[J]. Infrared Technology , 2022, 44(2): 198-204.

SF6气体泄漏红外成像检测的技术分析和应用探讨

基金项目: 

上海市学术/技术带头人项目 20XD1430200

详细信息
    作者简介:

    季怡萍(1993-),女,江苏常熟人,本科生,工程师,主要从事开关设备带电检测及新技术应用工作。E-mail:miro4755@163.com

    通讯作者:

    邓先钦(1988-),男,江西泰和人,硕士研究生,高级工程师,主要从事绝缘介质的现场试验及新技术应用工作。E-mail:dxq051@163.com

  • 中图分类号: TM711

Analysis of SF6 Leakage Detection Using Infrared Imaging

  • 摘要: 本文阐述了SF6气体泄漏红外成像技术原理,总结了检测工作相关的技术标准,结合技术原理对检测工作中的影响因素进行了重点分析,并提出了相应对策,通过技术比较分析了SF6气体泄漏红外成像的技术特点,据此提出了技术应用的策略,以更好地开展SF6气体泄漏红外成像检测,提高开关、互感器、套管、变压器等SF6气体绝缘设备缺陷巡检质量。
  • 图  1  SF6气体泄漏红外成像检测原理图

    Figure  1.  Schematic diagram of SF6 gas leakage infrared imaging detection

    图  2  室温背景与天空背景成像对比

    Figure  2.  Comparison of imaging between room temperature background and sky background

    图  3  高温背景与室温背景成像对比

    Figure  3.  Comparison of imaging between high temperature background and room temperature background

    图  4  镜面反射成像原理图

    Figure  4.  Schematic diagram of infrared reflection imaging

    图  5  气体泄漏成像的图像特征对比

    Figure  5.  Image feature comparison of gas leak imaging

    图  6  SF6气体绝缘设备检漏技术分类应用策略

    Figure  6.  Application strategy of technical classification of SF6 gas insulation equipment

    表  1  SF6气体泄漏红外成像检漏仪与传统仪器的技术参数比较

    Table  1.   Comparison of technical parameters of instruments

    Specifications Detection limit/(mL/min) Response time/s Positioning accuracy Operation safety
    Infrared imaging <0.06 1-2 Excellent Remote non-contact operation, high safety
    Traditional technology <0.01 Real time response Excellent Insufficient insulation distance, unsafe
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出版历程
  • 收稿日期:  2020-05-12
  • 修回日期:  2020-05-13
  • 刊出日期:  2022-02-20

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