芯片位置对红外二极管辐射强度在空间分布的影响

翁建华

翁建华. 芯片位置对红外二极管辐射强度在空间分布的影响[J]. 红外技术, 2012, 34(7): 389-392. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.07.003
引用本文: 翁建华. 芯片位置对红外二极管辐射强度在空间分布的影响[J]. 红外技术, 2012, 34(7): 389-392. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.07.003
Effects of Chip Location for Radiant Intensity Profiles of IREDs[J]. Infrared Technology , 2012, 34(7): 389-392. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.07.003
Citation: Effects of Chip Location for Radiant Intensity Profiles of IREDs[J]. Infrared Technology , 2012, 34(7): 389-392. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.07.003

芯片位置对红外二极管辐射强度在空间分布的影响

详细信息
  • 中图分类号: TN214

Effects of Chip Location for Radiant Intensity Profiles of IREDs

  • 摘要: 采用射线追踪法,计算了两种红外二极管辐射强度随空间角度的变化关系,并将计算结果与实测数据进行了比较.计算中红外射线由除底面外芯片的其余5个表面上产生的随机数进行发射,并考虑了反射杯对红外光线的反射.数值模拟的结果与实测得到结果基本一致.在此基础上模拟了芯片位置的变化对辐射强度的影响.模拟结果有助于进一步了解红外二极管的光学特性及其结构对光学特性的影响,并为红外二极管及关电开关的设计与制造提供理论参考.
计量
  • 文章访问数:  102
  • HTML全文浏览量:  24
  • PDF下载量:  6
  • 被引次数: 0
出版历程

目录

    /

    返回文章
    返回
    x 关闭 永久关闭

    尊敬的专家、作者、读者:

    端午节期间因系统维护,《红外技术》网站(hwjs.nvir.cn)将于2024年6月7日20:00-6月10日关闭。关闭期间,您将暂时无法访问《红外技术》网站和登录投审稿系统,给您带来不便敬请谅解!

    预计6月11日正常恢复《红外技术》网站及投审稿系统的服务。您如有任何问题,可发送邮件至编辑部邮箱(irtek@china.com)与我们联系。

    感谢您对本刊的支持!

    《红外技术》编辑部

    2024年6月6日