高级检索
ENGLISH

非晶态碲镉汞薄膜晶化过程的椭圆偏振光谱研究

孔金丞, 王光华, 杨佩原, 杨丽丽, 李雄军, 赵俊, 张鹏举, 孔令德, 姬荣斌

孔金丞, 王光华, 杨佩原, 杨丽丽, 李雄军, 赵俊, 张鹏举, 孔令德, 姬荣斌. 非晶态碲镉汞薄膜晶化过程的椭圆偏振光谱研究[J]. 红外技术, 2012, 34(4): 187-190. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.001
引用本文: 孔金丞, 王光华, 杨佩原, 杨丽丽, 李雄军, 赵俊, 张鹏举, 孔令德, 姬荣斌. 非晶态碲镉汞薄膜晶化过程的椭圆偏振光谱研究[J]. 红外技术, 2012, 34(4): 187-190. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.001
shu
KONG Jin-cheng, WANG Guang-hua, YANG Pei-yuan, YANG Li-li, LI Xiong-jun, ZHAO Jun, ZHANG Peng-ju, KONG Ling-de, JI Rong-bin. Characterization of the Crystallization of Amorphous Hg0.2Cd0.8Te Using Spectroscopic Ellipsometry[J]. Infrared Technology , 2012, 34(4): 187-190. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.001
Citation: KONG Jin-cheng, WANG Guang-hua, YANG Pei-yuan, YANG Li-li, LI Xiong-jun, ZHAO Jun, ZHANG Peng-ju, KONG Ling-de, JI Rong-bin. Characterization of the Crystallization of Amorphous Hg0.2Cd0.8Te Using Spectroscopic Ellipsometry[J]. Infrared Technology , 2012, 34(4): 187-190. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.001
shu

非晶态碲镉汞薄膜晶化过程的椭圆偏振光谱研究

  • 昆明物理研究所,云南 昆明,650223

  • 中国兵器科学研究院,北京,100089

  • 中国科学院昆明物理研究所

  • 中国兵器科学研究院

基金项目: The National Natural Science Foundation of China(60576069)
详细信息

  • 中图分类号: TN213

Characterization of the Crystallization of Amorphous Hg0.2Cd0.8Te Using Spectroscopic Ellipsometry

摘要

    摘要
  • 摘要: 采用椭圆偏振光谱技术研究了非晶态碲镉汞薄膜在不同退火条件下的结构性能.结果表明非晶态碲镉汞薄膜在退火过程中的成核晶化是在薄膜内部均匀发生的,对于不同晶化程度的薄膜,其光学常数谱具有明显的特征,通过对光学常数谱的分析研究可以对非晶态碲镉汞薄膜的晶化程度进行量化表征,从而控制退火条件,优化材料质量.
    • HTML全文
    • 参考文献(0)
    • 相关文章
    • 施引文献
    • 资源附件(0)
计量
  • 文章访问数:  94
  • HTML全文浏览量:  24
  • PDF下载量:  11
  • 被引次数: 0
出版历程

目录

摘要
HTML全文
    参考文献(0)
    相关文章
    施引文献
    资源附件(0)

    /

    返回文章
    返回

    版权所有 © 《红外技术》编辑部京ICP备000000000号-1

    本系统由 北京仁和汇智信息技术有限公司 开发  百度统计

    x 关闭 永久关闭

    尊敬的专家、作者、读者：

    端午节期间因系统维护，《红外技术》网站（hwjs.nvir.cn）将于2024年6月7日20:00-6月10日关闭。关闭期间，您将暂时无法访问《红外技术》网站和登录投审稿系统，给您带来不便敬请谅解！

    预计6月11日正常恢复《红外技术》网站及投审稿系统的服务。您如有任何问题，可发送邮件至编辑部邮箱（irtek@china.com）与我们联系。

    感谢您对本刊的支持！

    《红外技术》编辑部

    2024年6月6日