电阻阵列Flood非均匀性测试
Flood Nonuniformity Measurement Resistor Arrays
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摘要: 在红外成像半实物仿真领域,电阻阵列一直是近20多年的研究热点,但其固有的辐射非均匀性对成像的保真度有着很大的负面影响.为了对电阻阵列进行非均匀性校正,必须对电阻阵列的非均匀性进行精确的测量.给出了电阻阵列Flood非均匀性测试法系统模型；分析了莫尔条纹的产生原因；针对非1∶1映射比例下Flood非均匀性测试方法产生的莫尔条纹,提出了基于莫尔条纹预测的电阻阵列Flood非均匀性测试方法.仿真结果表明,该方法在小于1∶1映射比例下可以取得很好的效果.
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