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吴先权, 华文深, 赵莉君, 谢大兵, 李晓明. 基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究[J]. 红外技术, 2010, 32(12): 701-703,707. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
引用本文: 吴先权, 华文深, 赵莉君, 谢大兵, 李晓明. 基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究[J]. 红外技术, 2010, 32(12): 701-703,707. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
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WU Xian-quan, HUA Wen-shen, ZHAO Li-jun, XIE Da-bing, LI Xiao-ming. Study on Trap Depth of ZnS: Cu, Pb, Mn Based on Thermoluminescence Spectra[J]. Infrared Technology , 2010, 32(12): 701-703,707. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
Citation: WU Xian-quan, HUA Wen-shen, ZHAO Li-jun, XIE Da-bing, LI Xiao-ming. Study on Trap Depth of ZnS: Cu, Pb, Mn Based on Thermoluminescence Spectra[J]. Infrared Technology , 2010, 32(12): 701-703,707. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
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基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究

Study on Trap Depth of ZnS: Cu, Pb, Mn Based on Thermoluminescence Spectra

    摘要
  • 摘要: 利用热释光计量仪测得ZnS:Cu,Pb,Mn样品的热释光谱,以Gauss函数拟合的方式,对样品的热释光谱进行分析.并依据热释光动力学原理和Chen的峰形法,分别计算出各分峰谱线的陷阱深度E和频率因子s的具体数值.结果表明,ZnS:Cu,Pb,Mn材料中存在4个电子陷阱,E和s的值分别为:0.7969 eV、1.0745 eV、1.3999 eV、1.6593 eV;1.3800×1011 s-1、1.0385×1014 s-1、2.3186×1017 s-1、3.2718×1019 s-1.此计算结果与材料红外激励谱得到的结果基本一致,对进一步研究ZnS:Cu,Pb,Mn材料的发光机理及其微观过程提供了依据.

     

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