高级检索
ENGLISH

多元探测器芯片测试系统设计

Design for the Measurement System of Multiple Element Detector Chip

    摘要
  • 摘要: 多元探测器芯片测试系统用于多元红外探测器晶片、芯片测试筛选.该设备主要检测晶片、芯片的背景电流、漏电流、动态阻抗和C-V特性等参数,使之满足探测器要求.该设备是各种焦平面阵列红外探测器研制生产的必需设备.论文设计了一套基于Agilent VEE开发环境的多元探测器芯片测试系统.实验表明,设备具有较好的测量精度,达到了预期的设计目标.

     

    • HTML全文
    • 参考文献(0)
    • 相关文章
    • 施引文献
  • 资源附件(0)

/

返回文章
返回