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缺陷对红外测温反推内壁温度的影响分析

沈立华, 范春利, 杨立, 孙丰瑞

沈立华, 范春利, 杨立, 孙丰瑞. 缺陷对红外测温反推内壁温度的影响分析[J]. 红外技术, 2005, 27(3): 250-253. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.03.016
引用本文: 沈立华, 范春利, 杨立, 孙丰瑞. 缺陷对红外测温反推内壁温度的影响分析[J]. 红外技术, 2005, 27(3): 250-253. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.03.016
shu
SHEN Li-hua, FAN Chun-li, YANG Li, SUN Feng-rui. Study on Effect of Defect to Computation of Inner Surface Temperature Based on Infrared Temperature Measurement[J]. Infrared Technology , 2005, 27(3): 250-253. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.03.016
Citation: SHEN Li-hua, FAN Chun-li, YANG Li, SUN Feng-rui. Study on Effect of Defect to Computation of Inner Surface Temperature Based on Infrared Temperature Measurement[J]. Infrared Technology , 2005, 27(3): 250-253. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.03.016
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缺陷对红外测温反推内壁温度的影响分析

  • 海军工程大学船舶与动力工程学院307教研室,湖北,武汉,430033

  • 解放军海军工程大学

详细信息

  • 中图分类号: TN219

Study on Effect of Defect to Computation of Inner Surface Temperature Based on Infrared Temperature Measurement

摘要

    摘要
  • 摘要: 利用红外热像仪获得外壁温度,在简化的一维模型下反推内壁温度.分别分析了壁内存在缺陷,考虑缺陷内的空气对流换热及表面辐射对反推内壁温度的影响.反推的内壁温度大小与缺陷厚度成线性变化,而随着缺陷内介质导热系数的增加成非线性下降趋势,缺陷位于壁内时位置的影响可忽略.考虑缺陷内空气对流换热的影响下得出的温度与纯导热条件下得出的温度存在较大误差,辐射的影响可以忽略不计.结论对于实际工程中准确确定内壁温度有一定的指导作用.
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