红外焦平面阵列性能参数测试平台
A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays
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摘要: 分析了红外焦平面阵列器件性能参数测试平台的要求,建立了包括红外源及IRFPA模块、控制模块和信号放大、采集、处理模块在内的测试系统,可用来进行响应率、探测率、噪声等效功率、噪声等效温差等红外焦平面阵列性能参数的测试.用此参数测试平台来测试160×120红外焦平面阵列,经软件分析处理测试数据,证明该测试平台是准确有效的.最后对红外焦平面阵列性能参数测试平台的进一步优化提出了要求.
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