碲锌镉晶片退火的显微Raman光谱分析
Study on the Annealing Cadmium Zinc Telluride Substrate Wafers by Micro-Raman Spectrum
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摘要: 测量了4块不同退火条件处理碲锌镉晶片的显微Raman光谱,观察到了与碲锌镉材料及材料中Te沉积晶格振动相对应的Raman散射峰,发现了位于327 cm-1/332 cm-1的新峰.通过对碲锌镉晶片进行退火处理,有效的消除了Te沉积,比较碲锌镉晶片退火前后的显微Raman光谱,指出327 cm-1/332 cm-1散射峰只可能由来源于类CdTe或类ZnTe的二级声子散射引起,与碲锌镉材料中的Te沉积无关.
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