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双波段热成像系统光谱匹配因数

赵进豪, 褚云汉, 李茜

赵进豪, 褚云汉, 李茜. 双波段热成像系统光谱匹配因数[J]. 红外技术, 2004, 26(1): 34-37. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.010
引用本文: 赵进豪, 褚云汉, 李茜. 双波段热成像系统光谱匹配因数[J]. 红外技术, 2004, 26(1): 34-37. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.010
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The Spectral Matching Factor of the Double Wave Band Thermal Imaging Systems[J]. Infrared Technology , 2004, 26(1): 34-37. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.010
Citation: The Spectral Matching Factor of the Double Wave Band Thermal Imaging Systems[J]. Infrared Technology , 2004, 26(1): 34-37. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.01.010
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双波段热成像系统光谱匹配因数

  • 昆明物理研究所,云南,昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN216

The Spectral Matching Factor of the Double Wave Band Thermal Imaging Systems

摘要

    摘要
  • 摘要: 计算了双波段(3～5 μm,8～14 μm)HgCdTe红外探测器及热成像系统,在不同天气(晴、小雨、轻雾)条件下,对不同温度(T＝300,500,800,1000 K)目标辐射的光谱匹配因数.并与长波(8～14 μm)热成像系统光匹配因数进行了对比.结果表明,双波段HgCdTe热成像系统,对室温、中温及高温目标均有较高的光谱匹配因数(α≥0.53).这大大改进提高了单波段长波热像仪对中高温目标的光谱匹配因数,同时还大大提高了适应天气变化的能力.
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