碲镉汞材料少子寿命的微波反射光电导衰减测量
Measurement on Minority Carrier Lifetime of Mercury Cadmium Telluride Material by Microwave Photoconductivity Decay Method
-
摘要: 详细说明了用微波反射光电导衰减(μ-PCD)测量碲镉汞材料(MCT)中少数载流子寿命的原理.μ-PCD系统对样品少数载流子寿命的测量范围为20 ns至3 ms,测量温度可以从80 K到325 K变化,整个系统的测量由计算机控制自动进行,可以对样品进行X-Y平面扫描测量并进行结果数据分析.同时,还报道了用μ-PCD技术测量液相外延MCT薄膜材料少数载流子寿命的结果.
下载: