一种红外焦平面非均匀性校正改进方法的研究

沈晓燕, 皮德富

沈晓燕, 皮德富. 一种红外焦平面非均匀性校正改进方法的研究[J]. 红外技术, 2002, 24(1): 4-7,11. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.01.002
引用本文: 沈晓燕, 皮德富. 一种红外焦平面非均匀性校正改进方法的研究[J]. 红外技术, 2002, 24(1): 4-7,11. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.01.002
Research of Improving the Non-uniformity Correction in IRFPAs[J]. Infrared Technology , 2002, 24(1): 4-7,11. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.01.002
Citation: Research of Improving the Non-uniformity Correction in IRFPAs[J]. Infrared Technology , 2002, 24(1): 4-7,11. DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.01.002

一种红外焦平面非均匀性校正改进方法的研究

详细信息
  • 中图分类号: TN215

Research of Improving the Non-uniformity Correction in IRFPAs

  • 摘要: 微测辐射热计吸收入射红外辐射,引起读出电路输出信号的非均匀性.由于非均匀性校正的局限性,以前的微测辐射热计需要对基底温度进行精确控制.文中在两点校正法的基础上,提出了偏置校正法,可以放松对基底温度控制的要求.在常规两点增益与补偿校正法基础上,采用偏置校正,可在更宽的基底温度范围内进行非均匀性校正.这样的话,在读出电路片上进行基底温度控制是可能的.
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