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红外探测器暗电流测试方法研究

雍朝良,  段东,  许春,  陈凡胜

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文章导航 > 红外技术  > 2012 >  34(4): 196-199
雍朝良, 段东, 许春, 陈凡胜. 红外探测器暗电流测试方法研究[J]. 红外技术, 2012, 34(4): 196-199. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.003
引用本文: 雍朝良, 段东, 许春, 陈凡胜. 红外探测器暗电流测试方法研究[J]. 红外技术, 2012, 34(4): 196-199. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.003
shu
YONG Chao-Liang, DUAN Dong, XU Chun, CHEN Fan-Sheng. The Study on the Dark Current of the Infrared Detector Measuring Method[J]. Infrared Technology , 2012, 34(4): 196-199. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.003
Citation: YONG Chao-Liang, DUAN Dong, XU Chun, CHEN Fan-Sheng. The Study on the Dark Current of the Infrared Detector Measuring Method[J]. Infrared Technology , 2012, 34(4): 196-199. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.003
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红外探测器暗电流测试方法研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.003

  • 上海技术物理研究所,上海,200083

  • 中国科学院上海技术物理研究所

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  • 中图分类号: TM133

The Study on the Dark Current of the Infrared Detector Measuring Method

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