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高精度杂散光测量系统分析

李晓平,  王钢,  胡亭亮

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文章导航 > 红外技术  > 2011 >  33(9): 521-524
李晓平, 王钢, 胡亭亮. 高精度杂散光测量系统分析[J]. 红外技术, 2011, 33(9): 521-524. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.007
引用本文: 李晓平, 王钢, 胡亭亮. 高精度杂散光测量系统分析[J]. 红外技术, 2011, 33(9): 521-524. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.007
shu
LI Xiao-ping, WANG Gang, HU Ting-liang. High-precision Stray Light Measurement System Analysis[J]. Infrared Technology , 2011, 33(9): 521-524. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.007
Citation: LI Xiao-ping, WANG Gang, HU Ting-liang. High-precision Stray Light Measurement System Analysis[J]. Infrared Technology , 2011, 33(9): 521-524. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.007
shu

高精度杂散光测量系统分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.007

  • 上海技术物理研究所,上海,200083

  • 中国科学院上海技术物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN216

High-precision Stray Light Measurement System Analysis

    摘要
  • 摘要: 为了满足空间遥感技术的发展,杂散光测量系统要求有更低的测量阈值,更高的测量精度.现有的杂散光测量系统分为两类,分别为面源法(黑斑法)和点源法.文中将这两种方法概括为几个主要的模块,分析各个模块的实现方式及其对测量阈值、精度的影响.通过对测量系统实现方式的分析,提出控制测量系统阈值及精度的措施.为低阈值,高精度杂散光测量系统的研制奠定基础.如果按照文中提出的最严格的环境控制策略控制测量系统的背景辐射,测量系统可测的最低阈值可以达到10-15;如果测量阈值要求不高,采用较宽松的控制策略就可以使测量阈值达到10-5.
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