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电阻阵列Flood非均匀性测试

杨春伟,  王仕成,  苏德伦,  廖守亿,  张金生

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文章导航 > 红外技术  > 2011 >  33(9): 517-520
杨春伟, 王仕成, 苏德伦, 廖守亿, 张金生. 电阻阵列Flood非均匀性测试[J]. 红外技术, 2011, 33(9): 517-520. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.006
引用本文: 杨春伟, 王仕成, 苏德伦, 廖守亿, 张金生. 电阻阵列Flood非均匀性测试[J]. 红外技术, 2011, 33(9): 517-520. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.006
shu
YANG Chun-wei, WANG Shi-cheng, SU De-lun, LIAO Shou-yi, ZHANG Jin-sheng. Flood Nonuniformity Measurement Resistor Arrays[J]. Infrared Technology , 2011, 33(9): 517-520. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.006
Citation: YANG Chun-wei, WANG Shi-cheng, SU De-lun, LIAO Shou-yi, ZHANG Jin-sheng. Flood Nonuniformity Measurement Resistor Arrays[J]. Infrared Technology , 2011, 33(9): 517-520. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.006
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电阻阵列Flood非均匀性测试

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2011.09.006

  • 第二炮兵工程大学精确制导与仿真实验室,陕西西安,710025

  • 中国人民解放军火箭军工程大学

详细信息

  • 中图分类号: TN216

Flood Nonuniformity Measurement Resistor Arrays

    摘要
  • 摘要: 在红外成像半实物仿真领域,电阻阵列一直是近20多年的研究热点,但其固有的辐射非均匀性对成像的保真度有着很大的负面影响.为了对电阻阵列进行非均匀性校正,必须对电阻阵列的非均匀性进行精确的测量.给出了电阻阵列Flood非均匀性测试法系统模型；分析了莫尔条纹的产生原因；针对非1∶1映射比例下Flood非均匀性测试方法产生的莫尔条纹,提出了基于莫尔条纹预测的电阻阵列Flood非均匀性测试方法.仿真结果表明,该方法在小于1∶1映射比例下可以取得很好的效果.
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