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基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究

吴先权,  华文深,  赵莉君,  谢大兵,  李晓明

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文章导航 > 红外技术  > 2010 >  32(12): 701-703,707
吴先权, 华文深, 赵莉君, 谢大兵, 李晓明. 基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究[J]. 红外技术, 2010, 32(12): 701-703,707. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
引用本文: 吴先权, 华文深, 赵莉君, 谢大兵, 李晓明. 基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究[J]. 红外技术, 2010, 32(12): 701-703,707. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
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WU Xian-quan, HUA Wen-shen, ZHAO Li-jun, XIE Da-bing, LI Xiao-ming. Study on Trap Depth of ZnS: Cu, Pb, Mn Based on Thermoluminescence Spectra[J]. Infrared Technology , 2010, 32(12): 701-703,707. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
Citation: WU Xian-quan, HUA Wen-shen, ZHAO Li-jun, XIE Da-bing, LI Xiao-ming. Study on Trap Depth of ZnS: Cu, Pb, Mn Based on Thermoluminescence Spectra[J]. Infrared Technology , 2010, 32(12): 701-703,707. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004
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基于热释光谱的ZnS:Cu,Pb,Mn材料陷阱深度研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.12.004

  • 军械工程学院光学与电子工程系,河北,石家庄,050003

  • 哈尔滨工业大学理学院,黑龙江,哈尔滨,150001

  • 解放军军械工程学院

  • 哈尔滨工业大学

详细信息

  • 中图分类号: O433.4

Study on Trap Depth of ZnS: Cu, Pb, Mn Based on Thermoluminescence Spectra

    摘要
  • 摘要: 利用热释光计量仪测得ZnS:Cu,Pb,Mn样品的热释光谱,以Gauss函数拟合的方式,对样品的热释光谱进行分析.并依据热释光动力学原理和Chen的峰形法,分别计算出各分峰谱线的陷阱深度E和频率因子s的具体数值.结果表明,ZnS:Cu,Pb,Mn材料中存在4个电子陷阱,E和s的值分别为:0.7969 eV、1.0745 eV、1.3999 eV、1.6593 eV;1.3800×1011 s-1、1.0385×1014 s-1、2.3186×1017 s-1、3.2718×1019 s-1.此计算结果与材料红外激励谱得到的结果基本一致,对进一步研究ZnS:Cu,Pb,Mn材料的发光机理及其微观过程提供了依据.
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