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老化条件对OLED黑点缺陷的影响研究

李竑志,  唐利斌,  郑云,  李亚文,  季华夏,  姬荣斌

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文章导航 > 红外技术  > 2010 >  32(6): 349-352
李竑志, 唐利斌, 郑云, 李亚文, 季华夏, 姬荣斌. 老化条件对OLED黑点缺陷的影响研究[J]. 红外技术, 2010, 32(6): 349-352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.009
引用本文: 李竑志, 唐利斌, 郑云, 李亚文, 季华夏, 姬荣斌. 老化条件对OLED黑点缺陷的影响研究[J]. 红外技术, 2010, 32(6): 349-352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.009
shu
LI Hong-zhi, TANG Li-bin, ZHENG Yun, LI Ya-wen, JI Hua-xia, JI Rong-bin. The Effect of Aging Time on the Dark Spot Defect[J]. Infrared Technology , 2010, 32(6): 349-352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.009
Citation: LI Hong-zhi, TANG Li-bin, ZHENG Yun, LI Ya-wen, JI Hua-xia, JI Rong-bin. The Effect of Aging Time on the Dark Spot Defect[J]. Infrared Technology , 2010, 32(6): 349-352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.009
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老化条件对OLED黑点缺陷的影响研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.009

  • 昆明物理研究所,云南,昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

基金项目: 中国昆明光电子产业基地二期项目
详细信息

  • 中图分类号: TN103

The Effect of Aging Time on the Dark Spot Defect

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