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电阻阵列非均匀性测试

苏德伦,  张金生,  廖守亿

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文章导航 > 红外技术  > 2010 >  32(6): 345-348,352
苏德伦, 张金生, 廖守亿. 电阻阵列非均匀性测试[J]. 红外技术, 2010, 32(6): 345-348,352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.008
引用本文: 苏德伦, 张金生, 廖守亿. 电阻阵列非均匀性测试[J]. 红外技术, 2010, 32(6): 345-348,352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.008
shu
SU De-lun, ZHANG Jin-sheng, LIAO Shou-yi. Measurement of Resistor Array Non-uniformity[J]. Infrared Technology , 2010, 32(6): 345-348,352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.008
Citation: SU De-lun, ZHANG Jin-sheng, LIAO Shou-yi. Measurement of Resistor Array Non-uniformity[J]. Infrared Technology , 2010, 32(6): 345-348,352. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.008
shu

电阻阵列非均匀性测试

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.06.008

  • 第二炮兵工程学院精确制导与仿真实验室,陕西,西安,710025

  • 南京理工大学

基金项目: 航空科学基金(20080112005)%中国博士后科学基金(20080441274)%某院重点平台建设项目(WX07233)
详细信息

  • 中图分类号: TN215

Measurement of Resistor Array Non-uniformity

    摘要
  • 摘要: 电阻阵列的非均匀性是一种固定模式的空间噪声,已成为影响红外图像质量的主要因素.根据电阻阵列的非均匀性信息,对其输入数据进行补偿是校正非均匀性的一种有效的方式.分析了校正算法对非均匀性测试的需求;提出基于成像探测的非均匀性测量手段;研究了图像退化对非均匀性测试的影响;根据测试中输入图像数据的特点,提出一种基于迭代测试的盲复原方法.仿真结果表明,基于迭代的复原方法能有效地从退化图像中复原电阻阵列的实际非均匀性图像,并取得较好的校正效果.
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