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非制冷微测辐射热计阵列单元结构模型应力有限元分析

周连军,  邹鹏程,  李京辉,  李煜,  李欣蓉

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文章导航 > 红外技术  > 2010 >  32(2): 63-67
周连军, 邹鹏程, 李京辉, 李煜, 李欣蓉. 非制冷微测辐射热计阵列单元结构模型应力有限元分析[J]. 红外技术, 2010, 32(2): 63-67. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.02.001
引用本文: 周连军, 邹鹏程, 李京辉, 李煜, 李欣蓉. 非制冷微测辐射热计阵列单元结构模型应力有限元分析[J]. 红外技术, 2010, 32(2): 63-67. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.02.001
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ZHOU Lian-jun, ZOU Peng-cheng, LI Jin-hui, LI Yu, LI Xin-rong. The Analysis of Stress Using FEA for the Pixel Structure of Uncooled Microbolometer Arrays[J]. Infrared Technology , 2010, 32(2): 63-67. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.02.001
Citation: ZHOU Lian-jun, ZOU Peng-cheng, LI Jin-hui, LI Yu, LI Xin-rong. The Analysis of Stress Using FEA for the Pixel Structure of Uncooled Microbolometer Arrays[J]. Infrared Technology , 2010, 32(2): 63-67. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.02.001
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非制冷微测辐射热计阵列单元结构模型应力有限元分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2010.02.001

  • 昆明物理研究所,云南,昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN215

The Analysis of Stress Using FEA for the Pixel Structure of Uncooled Microbolometer Arrays

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