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噪声作为红外探测器可靠性评价的探讨

苏玉辉,  龚晓霞,  雷胜琼,  杨文运

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文章导航 > 红外技术  > 2009 >  31(9): 509-512
苏玉辉, 龚晓霞, 雷胜琼, 杨文运. 噪声作为红外探测器可靠性评价的探讨[J]. 红外技术, 2009, 31(9): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2009.09.003
引用本文: 苏玉辉, 龚晓霞, 雷胜琼, 杨文运. 噪声作为红外探测器可靠性评价的探讨[J]. 红外技术, 2009, 31(9): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2009.09.003
shu
SU Yu-hui, GONG Xiao-xia, LEI Sheng-qiong, YANG Wen-yun. Discussion of Reliability Evaluation on Infrared Photovoltaic Detector by Noise[J]. Infrared Technology , 2009, 31(9): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2009.09.003
Citation: SU Yu-hui, GONG Xiao-xia, LEI Sheng-qiong, YANG Wen-yun. Discussion of Reliability Evaluation on Infrared Photovoltaic Detector by Noise[J]. Infrared Technology , 2009, 31(9): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2009.09.003
shu

噪声作为红外探测器可靠性评价的探讨

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2009.09.003

  • 昆明物理研究所,云南,昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

详细信息

  • 中图分类号: TN215

Discussion of Reliability Evaluation on Infrared Photovoltaic Detector by Noise

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