Design for the Measurement System of Multiple Element Detector Chip
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摘要: 多元探测器芯片测试系统用于多元红外探测器晶片、芯片测试筛选.该设备主要检测晶片、芯片的背景电流、漏电流、动态阻抗和C-V特性等参数,使之满足探测器要求.该设备是各种焦平面阵列红外探测器研制生产的必需设备.论文设计了一套基于Agilent VEE开发环境的多元探测器芯片测试系统.实验表明,设备具有较好的测量精度,达到了预期的设计目标.
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关键词:
- 红外探测器 /
- 背景电流 /
- 漏电流 /
- 动态阻抗 /
- AgilentVEE
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