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电子倍增CCD噪声来源和信噪比分析

陈晨,  许武军,  翁东山,  危峻

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文章导航 > 红外技术  > 2007 >  29(11): 634-637
陈晨, 许武军, 翁东山, 危峻. 电子倍增CCD噪声来源和信噪比分析[J]. 红外技术, 2007, 29(11): 634-637. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.004
引用本文: 陈晨, 许武军, 翁东山, 危峻. 电子倍增CCD噪声来源和信噪比分析[J]. 红外技术, 2007, 29(11): 634-637. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.004
shu
CHEN Chen, XU Wu-jun, WENG Dong-shan, WEI Jun. The Noise Sources and SNR Analysis of Electronic Multiplying CCD[J]. Infrared Technology , 2007, 29(11): 634-637. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.004
Citation: CHEN Chen, XU Wu-jun, WENG Dong-shan, WEI Jun. The Noise Sources and SNR Analysis of Electronic Multiplying CCD[J]. Infrared Technology , 2007, 29(11): 634-637. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.004
shu

电子倍增CCD噪声来源和信噪比分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.004

  • 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083;中国科学院研究生院,北京,100039

  • 东华大学信息科学与技术学院,上海,201620

  • 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083

  • 中国科学院上海技术物理研究所

  • 东华大学

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  • 中图分类号: TN223

The Noise Sources and SNR Analysis of Electronic Multiplying CCD

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