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射频溅射CdTe薄膜结构特性分析

孔令德 孔金丞 赵俊 张鹏举 李雄军 李竑志 王善力 姬荣斌

孔令德, 孔金丞, 赵俊, 张鹏举, 李雄军, 李竑志, 王善力, 姬荣斌. 射频溅射CdTe薄膜结构特性分析[J]. 红外技术, 2007, 29(11): 627-629. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.002
引用本文: 孔令德, 孔金丞, 赵俊, 张鹏举, 李雄军, 李竑志, 王善力, 姬荣斌. 射频溅射CdTe薄膜结构特性分析[J]. 红外技术, 2007, 29(11): 627-629. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.002
KONG Ling-de, KONG Jin-cheng, ZHAO Jun, ZHANG Peng-ju, LI Xiong-jun, LI Hong-zhi, WANG Shan-li, JI Rong-bin. Structural Analysis of RF Magnetron Sputtered CdTe Films[J]. Infrared Technology , 2007, 29(11): 627-629. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.002
Citation: KONG Ling-de, KONG Jin-cheng, ZHAO Jun, ZHANG Peng-ju, LI Xiong-jun, LI Hong-zhi, WANG Shan-li, JI Rong-bin. Structural Analysis of RF Magnetron Sputtered CdTe Films[J]. Infrared Technology , 2007, 29(11): 627-629. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.002

射频溅射CdTe薄膜结构特性分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2007.11.002
基金项目: 国家自然科学基金(60576069)%云南省自然科学基金(2004E0055M)
详细信息
  • 中图分类号: TN213

Structural Analysis of RF Magnetron Sputtered CdTe Films

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