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CdTe和CdZnTe室温探测器钝化方法概述

赵晓燕,  鲁正雄

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文章导航 > 红外技术  > 2005 >  27(4): 324-327
赵晓燕, 鲁正雄. CdTe和CdZnTe室温探测器钝化方法概述[J]. 红外技术, 2005, 27(4): 324-327. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.04.014
引用本文: 赵晓燕, 鲁正雄. CdTe和CdZnTe室温探测器钝化方法概述[J]. 红外技术, 2005, 27(4): 324-327. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.04.014
shu
ZHAO Xiao-yan, LU Zheng-xiong. The Summarization of Passivation Techniques on CdTe and CdZnTe Room-tempreture Detectors[J]. Infrared Technology , 2005, 27(4): 324-327. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.04.014
Citation: ZHAO Xiao-yan, LU Zheng-xiong. The Summarization of Passivation Techniques on CdTe and CdZnTe Room-tempreture Detectors[J]. Infrared Technology , 2005, 27(4): 324-327. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.04.014
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CdTe和CdZnTe室温探测器钝化方法概述

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.04.014

  • 中国空空导弹研究院,河南,洛阳,471009

  • 中国空空导弹研究院

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  • 中图分类号: TN215

The Summarization of Passivation Techniques on CdTe and CdZnTe Room-tempreture Detectors

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