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用红外透射法确定任意厚度下碲镉汞晶体的组分

杨彦 刘新进

杨彦, 刘新进. 用红外透射法确定任意厚度下碲镉汞晶体的组分[J]. 红外技术, 2005, 27(1): 39-41. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.009
引用本文: 杨彦, 刘新进. 用红外透射法确定任意厚度下碲镉汞晶体的组分[J]. 红外技术, 2005, 27(1): 39-41. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.009
The Determination of Cadmium-Mercury Telluride Composition for Any Thickness by Infrared Transmission[J]. Infrared Technology , 2005, 27(1): 39-41. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.009
Citation: The Determination of Cadmium-Mercury Telluride Composition for Any Thickness by Infrared Transmission[J]. Infrared Technology , 2005, 27(1): 39-41. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.009

用红外透射法确定任意厚度下碲镉汞晶体的组分

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.01.009
详细信息
  • 中图分类号: TN213

The Determination of Cadmium-Mercury Telluride Composition for Any Thickness by Infrared Transmission

  • 摘要: 选用组分均匀的碲镉汞Hg1-xCdxTe晶片(x=0.170-0.300 mole CdTe),在室温下用红外光谱仪测量晶片在不同厚度的透射光谱,取透射比为5%对应的波数值,对实验数据进行拟合,得到了碲镉汞晶体组分与透射比为5%对应的波数值和晶片厚度之间的经验关系式(简称经验式).结果表明:用本文的经验式得到的组分值不受晶片厚度的影响,准确而可靠.本文拟合的经验式适用于红外透射法测量任意厚度碲镉汞材料的组分计算,同时还可用它研究Hg1-xCdxTe晶片组分的均匀性.
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