红外焦平面阵列性能参数测试平台

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红外焦平面阵列性能参数测试平台

肖静, 周昊, 何兆湘, 陈四海, 易新建

文章导航 > 红外技术 > 2004 > 26(5): 75-79

肖静, 周昊, 何兆湘, 陈四海, 易新建. 红外焦平面阵列性能参数测试平台[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

引用本文:

肖静, 周昊, 何兆湘, 陈四海, 易新建. 红外焦平面阵列性能参数测试平台[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

Citation:

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

肖静, 周昊, 何兆湘, 陈四海, 易新建. 红外焦平面阵列性能参数测试平台[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

引用本文:

肖静, 周昊, 何兆湘, 陈四海, 易新建. 红外焦平面阵列性能参数测试平台[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

Citation:

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 75-79. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

红外焦平面阵列性能参数测试平台

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.020

华中科技大学光电子工程系,湖北,武汉,430074
华中科技大学

中图分类号: TN219
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出版历程

A Test Bengch for Measuring Characteristic Parameters of Infrared Focal Plane Arrays

摘要: 分析了红外焦平面阵列器件性能参数测试平台的要求,建立了包括红外源及IRFPA模块、控制模块和信号放大、采集、处理模块在内的测试系统,可用来进行响应率、探测率、噪声等效功率、噪声等效温差等红外焦平面阵列性能参数的测试.用此参数测试平台来测试160×120红外焦平面阵列,经软件分析处理测试数据,证明该测试平台是准确有效的.最后对红外焦平面阵列性能参数测试平台的进一步优化提出了要求.
- 红外焦平面阵列 /
- 参数测试平台 /
- 数据分析处理软件 /
- 无效像元

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