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碲锌镉晶片退火的显微Raman光谱分析

黄晖,  潘顺臣

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文章导航 > 红外技术  > 2004 >  26(5): 37-39,45
黄晖, 潘顺臣. 碲锌镉晶片退火的显微Raman光谱分析[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 37-39,45. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.010
引用本文: 黄晖, 潘顺臣. 碲锌镉晶片退火的显微Raman光谱分析[J]. 红外技术, 2004, 26(5): 37-39,45. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.010
shu
Study on the Annealing Cadmium Zinc Telluride Substrate Wafers by Micro-Raman Spectrum[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 37-39,45. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.010
Citation: Study on the Annealing Cadmium Zinc Telluride Substrate Wafers by Micro-Raman Spectrum[J]. Infrared Technology , 2004, 26(5): 37-39,45. doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.010
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碲锌镉晶片退火的显微Raman光谱分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-8891.2004.05.010

  • 昆明物理研究所,云南,昆明,650223

  • 中国科学院昆明物理研究所

基金项目: 云南省自然科学基金(2003E0012Z)
详细信息

  • 中图分类号: O472+.3

Study on the Annealing Cadmium Zinc Telluride Substrate Wafers by Micro-Raman Spectrum

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